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Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea
Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea
Especificaciones
Número de modelo :
Atomedge Pro
Lugar de origen :
PORCELANA
Cantidad mínima de pedido :
1
Términos de pago :
T/T
Nombre :
Microscopios de fuerza atómica
Ángulo de escaneo :
0 ~ 360 "
Rango de escaneo :
Máximo 100 μm * 100 μm * 910 μm
Tamaño de muestra :
Compatible con obleas de 8 pulgadas y abajo
Medición multifunción :
EFM, KFM, PFM, MFM
Velocidad de escaneo :
0.1Hz-30Hz
Descripción
Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea
Modelo de producto:

Atomana

Descripción general del producto:

Utilizando estructuras de la sonda de microcantilver, este instrumento permite la caracterización de la morfología 3D de materiales sólidos conductores, semiconductores y aislantes, logrando la caracterización de morfología de muestras grandes a nivel de oblea. Combinado con una imagen óptica, la etapa de posicionamiento de muestra impulsada eléctricamente permite una precisión de posicionamiento de 1 μm dentro de un área de 200 x 200 mm. con operaciones totalmente automatizadas para la alineación del láser, el enfoque de la sonda y los ajustes de parámetros de escaneo.

Especificaciones de rendimiento del equipo
Parámetro Especificación
Tamaño de muestra Compatible con obleas de 8 pulgadas y abajo
Rango de escaneo Máximo 100 μm * 100 μm * 910 μm
Ángulo de escaneo 0 ~ 360 "
Resolución Resolución de circuito cerrado del eje Z 0.15 nm; X/y Resolución de circuito cerrado 0.5 nm
Sonda de escaneo de dirección xy lmage resolución No menos de 32x32 ~ 4000x4000
Modos de operación Modo de contacto, modo de tapping, modo de imagen de fase, modo de elevación, modo de escaneo multidireccional
Medición multifunción EFM, KFM, PFM, MFM

Casos de aplicación

Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea

  • Potencial de la hoja de electrodo de tira de Au-Ti
  • Modo de escaneo: KPFM (Modo de elevación)
  • Rango de escaneo: 18 μm * 18 μmtitanio: película de titanato de aluminio

Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea

  • Fuerza electrostática de la hoja de electrodo de tira Au-Ti
  • Modo de escaneo: EFM (modo de elevación)
  • Rango de escaneo: 18 μm * 18 μm

Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea

  • Dominios magnéticos en películas delgadas Fe-Ni
  • Modo de escaneo: MFM (Modo de elevación)
  • Rango de escaneo: 14 μm * 14 μm

Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea

  • Imagen de amplitud vertical correspondiente PBTIO3-Piezoelectric correspondiente
  • Modo de escaneo: PFM (modo de contacto)
  • Rango de escaneo: 20 μm * 20 μm
Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea
  • CO/PT Película delgada
  • Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
  • Rango de escaneo: 25 μm * 25 μm
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Detalle del producto
Número de modelo :
Atomedge Pro
Lugar de origen :
PORCELANA
Cantidad mínima de pedido :
1
Términos de pago :
T/T
Nombre :
Microscopios de fuerza atómica
Ángulo de escaneo :
0 ~ 360 "
Proveedor de contacto
El video
Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea

Truth Instruments Co., Ltd.

Active Member
1 Años
shandong, qingdao
Desde 2019
Productos principales :
Microscopio de fuerza atómica, Microscopio Kerr, Magnetómetro de muestra vibrante
Total anual :
15.000.000-20.000.000
Número de empleados :
100~200
Nivel de certificación :
Active Member
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