Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta versátil para el análisis de la superficie, comúnmente utilizada en varias aplicaciones científicas e industriales.Este dispositivo de vanguardia ofrece capacidades de escaneo excepcionales y imágenes precisas para el análisis detallado de las muestras.

Una de las características clave del AFM es su impresionante rango de velocidad de escaneo, que permite un escaneo preciso a velocidades que van desde 0,1 Hz hasta 30 Hz.Esta flexibilidad en la velocidad de escaneo permite a los usuarios ajustar los ajustes en función de los requisitos específicos de sus experimentos, garantizando resultados precisos y eficientes.

Con un rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, el AFM proporciona una visión completa de la superficie de la muestra con una alta resolución.Este amplio rango de escaneo permite obtener imágenes y análisis detallados de varios tipos de muestras, lo que la convierte en una herramienta ideal para investigadores y científicos en una amplia gama de campos.

El AFM está diseñado para acomodar tamaños de muestra de hasta 25 mm, ofreciendo versatilidad en el manejo y análisis de muestras.Esta generosa capacidad de tamaño de muestra hace que el AFM sea adecuado para una amplia gama de aplicaciones, desde la investigación en nanotecnología hasta la ciencia de los materiales y más allá.

Equipado con una etapa XY motorizada con una resolución de 100 μm, el AFM garantiza un movimiento preciso y controlado de la etapa de muestra durante el escaneo.Esta característica avanzada de control de la etapa permite un posicionamiento preciso de la muestra, lo que permite obtener imágenes y análisis de alta calidad con un error mínimo.

El AFM ofrece una variedad de modos de escaneo, incluidos los modos de contacto, toque, no contacto, fuerza lateral y modulación de fuerza.Estos diferentes modos de escaneo ofrecen a los usuarios flexibilidad en las técnicas de imagen y análisis, permitiendo una investigación exhaustiva de las superficies y propiedades de las muestras.

En conclusión, el microscopio de fuerza atómica es una herramienta poderosa y versátil para el análisis de la superficie, comúnmente utilizada en investigación científica, caracterización de materiales y aplicaciones industriales.Con sus capacidades avanzadas de escaneoEl AFM es un instrumento esencial para los investigadores y científicos que buscan información detallada sobre las propiedades de varias muestras.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Velocidad de escaneo: 0.1Hz-30Hz
• Rango de exploración: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Estadio de muestreo: Estadio XY motorizado con resolución de 100 μm
• Modos de escaneo: contacto, toque, no contacto, fuerza lateral, modulación de la fuerza
• Resolución: 0,04 Nm

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es una herramienta de vanguardia diseñada para la caracterización a nanoescala y la obtención de imágenes de resolución atómica.Con sus características y capacidades avanzadas, este producto es adecuado para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación.

Un escenario de aplicación clave para el AtomEdge Pro es en la investigación de ciencias de materiales.Los investigadores pueden utilizar este microscopio de fuerza de escaneo para investigar la morfología superficial y las propiedades mecánicas de varios materiales a nivel nanométricoLa alta resolución de 0,04 nm permite obtener imágenes detalladas de las estructuras atómicas, lo que la convierte en una herramienta esencial para estudiar las propiedades de los materiales.

Otro área de aplicación importante para el AtomEdge Pro es en el campo de las ciencias biológicas.con alta precisión y resoluciónLa etapa XY motorizada con una resolución de 100 μm permite un posicionamiento preciso de las muestras, lo que la hace ideal para la obtención de imágenes de muestras biológicas con estructuras complejas.

En el campo de la investigación y el desarrollo de semiconductores, el AtomEdge Pro se puede utilizar para analizar materiales y dispositivos semiconductores a nivel atómico.1Hz-30Hz permite una rápida adquisición de datos, por lo que es una herramienta valiosa para caracterizar las estructuras de semiconductores y detectar defectos.

Además, el AtomEdge Pro también es adecuado para aplicaciones en ciencia de superficies y análisis de películas finas.rugosidad de la superficieEl rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm proporciona una plataforma versátil para estudiar una amplia gama de propiedades de la superficie.

En resumen, el Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope es una herramienta versátil que encuentra aplicaciones en diversos campos como la ciencia de los materiales, la biología, la investigación de semiconductores,y ciencia de la superficieSu alta resolución, velocidad de escaneo,y la etapa XY motorizada lo convierten en una opción ideal para investigadores y científicos que buscan caracterización avanzada a nanoescala y capacidades de imágenes de resolución atómica.