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Soquetes de prueba de semiconductores libres de Burr con ingeniería de precisión de tolerancia estrecha
Soquetes de prueba de semiconductores libres de Burr con ingeniería de precisión de tolerancia estrecha
Especificaciones
Lugar de origen :
Guangdong, China
Especificación material :
Acero inoxidable 17-4ph (estándar), cobre berilio (alto ciclo), titanio (peso ligero); Níquel o recu
Tolerancias dimensionales :
Características críticas: ± 0.005 mm (alineación del dispositivo); Cuerpo general - ± 0.02 mm
Planitud/coplanaridad :
≤0.01 mm a través de la superficie del asiento (garantiza una presión de contacto uniforme).
Ancho y profundidad del canal de pin/plomo :
Ancho - ± 0.003 mm; Profundidad - ± 0.005 mm (ajustable para la desviación del plomo).
Precisión de tono PIN/plomo :
± 0.005 mm (IC de lanzamiento fino), ± 0.01 mm (estándar).
Descripción
Guía de las tomas de prueba de semiconductores
Resumen del producto
La guía de enchufe de prueba de semiconductores está diseñada para ofrecer un rendimiento constante a través de miles de inserciones de prueba.impide la accionamiento fuera del eje que pueda causar una fuerza de contacto desigual o un desgaste prematuro de la sondaLos orificios de guía de precisión, con conducciones chanfradas y perfiles de espacio libre optimizados, aseguran una compresión suave de los pines pogo.y confiabilidad superior en entornos ATE de alto rendimiento.
Superficie y acabado
  • Canales de contacto:Ra ≤ 0,2 μm (finitura de espejo)
  • Superficies sin contacto:Ra ≤ 0,8 μm
  • No tiene burro:Los bordes micro-desgravados, conforme a la norma ISO 13715
Opciones de revestimiento y revestimiento protector
  • Anodizado en capa dura (aluminio)
  • Niquel sin electro (50-100 μin)
  • Flash de oro (0,1-0,3 μin) para una conductividad mejorada
Limpieza y embalaje
  • Envases para salas limpias de la clase 100
  • Residuos no volátiles < 5 μg/cm2
  • Opción libre de iones disponible
Certificaciones
ISO 9001:2015 IPC-9592 (Alta confiabilidad) MIL-STD-883 y el sistema de certificación ISO 9001:2015
Ventajas técnicas
  • Construidos a partir de polímeros o compuestos llenos de cerámica CTE para su resistencia a la distorsión térmica
  • Se mantiene la estabilidad dimensional a temperaturas > 150 °C durante los procedimientos HTOL y de combustión
  • Evita la deformación, desalineación o desacoplamiento de la sonda durante el ciclo térmico
  • Diseñados para > 100 000 inserciones con compuestos de alta dureza y materiales resistentes a la abrasión
  • Los rellenos de PTFE o los recubrimientos de película seca reducen la fricción, la irritación y la generación de partículas
Con su ingeniería de precisión, la Guía de Enchufe de Prueba de Semiconductores asegura la integridad dimensional, durabilidad a largo plazo,y resultados fiables de los ensayos, incluso en condiciones mecánicas y térmicas exigentes.
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Soquetes de prueba de semiconductores libres de Burr con ingeniería de precisión de tolerancia estrecha

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Detalle del producto
Lugar de origen :
Guangdong, China
Especificación material :
Acero inoxidable 17-4ph (estándar), cobre berilio (alto ciclo), titanio (peso ligero); Níquel o recu
Tolerancias dimensionales :
Características críticas: ± 0.005 mm (alineación del dispositivo); Cuerpo general - ± 0.02 mm
Planitud/coplanaridad :
≤0.01 mm a través de la superficie del asiento (garantiza una presión de contacto uniforme).
Ancho y profundidad del canal de pin/plomo :
Ancho - ± 0.003 mm; Profundidad - ± 0.005 mm (ajustable para la desviación del plomo).
Precisión de tono PIN/plomo :
± 0.005 mm (IC de lanzamiento fino), ± 0.01 mm (estándar).
Proveedor de contacto
Soquetes de prueba de semiconductores libres de Burr con ingeniería de precisión de tolerancia estrecha

Dongguan Yiding Technologies Co., Ltd.

Active Member
1 Años
dongguan
Productos principales :
Servicio de mecanizado por CNC, Servicio de torneado CNC, Fabricación de chapa
Total anual :
1500000-2000000
Número de empleados :
50~100
Nivel de certificación :
Active Member
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