Especificaciones
Número de modelo :
4 pulgadas
Lugar de origen :
China
Cantidad mínima de pedido :
10
Condiciones de pago :
T/T
Capacidad de suministro :
por el caso
Tiempo de entrega :
4-8 semanas
Detalles del embalaje :
cartones a medida
Descripción

Descripción general de la oblea epitaxial de SiC

Las obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas (200 mm) están emergiendo como el formato más avanzado en la industria del SiC. Representando la vanguardia de la ciencia de los materiales y la capacidad de fabricación, las obleas epitaxiales de SiC de 8” ofrecen oportunidades sin precedentes para aumentar la producción de dispositivos de potencia y, al mismo tiempo, reducir el costo por dispositivo.

A medida que la demanda de vehículos eléctricos, energía renovable y electrónica de potencia industrial continúa aumentando a nivel mundial, las obleas de 8” están permitiendo una nueva generación de MOSFET de SiC, diodos y módulos de potencia integrados con mayor rendimiento, mejor rendimiento y menores costos de fabricación.

Con propiedades de banda prohibida amplia, alta conductividad térmica y un voltaje de ruptura excepcional, las obleas de SiC de 8” están desbloqueando nuevos niveles de rendimiento y eficiencia en la electrónica de potencia avanzada.

Obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas: rendimiento y eficiencia de la electrónica de potencia escalableObleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas: rendimiento y eficiencia de la electrónica de potencia escalable


¿Cómo se fabrican las obleas epitaxiales de SiC de 8”?

La fabricación de obleas epitaxiales de SiC de 8” requiere reactores CVD de próxima generación, un control preciso del crecimiento de cristales y tecnología de sustrato ultraplana:

  1. Fabricación de sustratos
    Los sustratos monocristalinos de SiC de 8” se producen mediante técnicas de sublimación a alta temperatura y, posteriormente, se pulen a una rugosidad subnanométrica.

  2. Crecimiento epitaxial CVD
    Las herramientas CVD avanzadas a gran escala operan a ~1600 °C para depositar capas epitaxiales de SiC de alta calidad sobre los sustratos de 8”, con un flujo de gas y una uniformidad de temperatura optimizados para manejar el área más grande.

  3. Dopaje a medida
    Los perfiles de dopaje de tipo N o tipo P se crean con alta uniformidad en toda la oblea de 300 mm.

  4. Metrología de precisión
    El control de la uniformidad, el monitoreo de defectos de cristal y la gestión del proceso in situ garantizan la consistencia desde el centro hasta el borde de la oblea.

  5. Garantía de calidad integral
    Cada oblea se valida a través de:

    • AFM, Raman y XRD

    • Mapeo de defectos de oblea completa

    • Análisis de rugosidad superficial y deformación

    • Mediciones de propiedades eléctricas


Especificaciones

Grado 8InchN-typeSiCSubstrate
1 Politipo -- 4HSiC
2 Tipo de conductividad -- N
3 Diámetro mm 200.00±0.5mm
4 Grosor um 700±50µm
5 Eje de orientación de la superficie del cristal grado 4.0°hacia±0.5°
6 Profundidad de la muesca mm 1~1.25mm
7 Orientación de la muesca grado ±5°
8 Resistividad (promedio) Ωcm NA
9 TTV um NA
10 LTV um NA
11 Alabeo um NA
12 Deformación um NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 TED cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Politipos extranjeros -- NA
19 SF(BSF)(tamaño de cuadrícula de 2x2 mm) % NA
20 TUA(Área total utilizable)(tamaño de cuadrícula de 2x2 mm) % NA
21 Exclusión nominal de bordes mm NA
22 Arañazos visuales -- NA
23 Longitud acumulativa de arañazos (superficie de Si) mm NA
24 Cara de Si -- Pulido CMP
25 Cara C -- Pulido CMP
26 Rugosidad superficial (cara Si) nm NA
27 Rugosidad superficial (cara C) nm NA
28 Marcado láser -- Cara C, por encima de la muesca
29 Astilla de borde (superficies delantera y trasera) -- NA
30 Placas hexagonales -- NA
31 Grietas -- NA
32 Partículas (≥0.3um) -- NA
33 Contaminación del área (manchas) -- Ninguna: ambas caras
34 Contaminación de metales residuales (ICP-MS) átomo/cm2 NA
35 Perfil del borde -- Chaflán, forma en R
36 Embalaje -- Casete multioblea o contenedor de una sola oblea


Aplicaciones

Las obleas epitaxiales de SiC de 8” permiten la producción en masa de dispositivos de potencia confiables en sectores como:

  • Vehículos eléctricos (EV)
    Inversores de tracción, cargadores integrados y convertidores CC/CC.

  • Energía renovable
    Inversores solares de cadena, convertidores de energía eólica.

  • Accionamientos industriales
    Accionamientos de motor eficientes, sistemas servo.

  • Infraestructura 5G / RF
    Amplificadores de potencia e interruptores de RF.

  • Electrónica de consumo
    Fuentes de alimentación compactas y de alta eficiencia.


Preguntas frecuentes (FAQ)

1. ¿Cuál es el beneficio de las obleas de SiC de 8”?
Reducen significativamente el costo de producción por chip a través del aumento del área de la oblea y el rendimiento del proceso.

2. ¿Qué tan madura es la producción de SiC de 8”?
8” está entrando en producción piloto con líderes de la industria seleccionados; nuestras obleas están disponibles ahora para I+D y aumento de volumen.

3. ¿Se pueden personalizar el dopaje y el grosor?
Sí, la personalización completa del perfil de dopaje y el grosor del epi está disponible.

4. ¿Son compatibles las fábricas existentes con las obleas de SiC de 8”?
Se necesitan actualizaciones menores de los equipos para una compatibilidad total de 8”.

5. ¿Cuál es el plazo de entrega típico?
6–10 semanas para pedidos iniciales; más corto para volúmenes repetidos.

6. ¿Qué industrias adoptarán SiC de 8” más rápido?
Los sectores automotriz, de energía renovable y de infraestructura de red.


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