Especificaciones
Number modelo :
SPC500
Lugar del origen :
China
MOQ :
1 pedazo
Condiciones de pago :
L/C, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente :
50, 000PCS/Year
Detalles de empaquetado :
paquete exportador estándar
Travel-X.Y AXIS :
500*400 (milímetro)
Viaje-z AXIS :
200m m
Gama de trabajo de Z-AXIS :
108m m
Mecanismo de alimentación XY :
Manual
Mecanismo de alimentación de Z :
CNC
Resolución :
1 micrón
X, exactitud de Y-AXIS (µm) :
2.5+L/200 um, longitud de L=measuring (milímetros)
Repetibilidad :
0.003m m
Origen :
Dongguan
Código del HS :
9031809090
Puerto :
Shenzhen, China
Descripción

Oblea que examina el microscopio Inspect500

 

Uso
EXAMINE la serie que mide el microscopio metalúrgico son ampliamente utilizado en los paquetes del semiconductor, cojines de la soldadura, altura del lazo, los paneles de FPD (LCM), nivel CSPS de la oblea y así sucesivamente.

 

Características y ventajas de la oblea que examinan el microscopio

Base, tabla de alta precisión y columna de mármol para asegurar altas estabilidad y rigidez

■El diseño de mármol de la tabla, con el carril cruzado de forma de V de la precisión, se asegura que el uso a largo plazo sin deforme, que garantice con eficacia la alta precisión mecánica

■El sistema óptico de alta calidad y el CCD de alta resolución aseguran los bordes de la imagen aguda

■la fuente de luz de la fuente de luz fría de la superficie del anillo del Tres-anillo y de la ocho-zona LED y del contorno, evita la deformación de las piezas de precisión causadas por el calor de la luz

■Nikon opcional que inclina el tubo trinocular + visera del yelmo quíntupla

■Investigación y desarrollo independiente del software de medición de la imagen, potente y fácil actuar

 

Datos técnicos

Modelo INSPECT300 INSPECT400 INSPECT500
X, viaje del eje de Y (milímetros) 300*200 400*300 500*400
Tamaño de cristal de la etapa (milímetros) 357*257 457*357 557*457
Viaje del eje de Z (milímetros) 100
X, Y, resolución del eje de Z (μm) 1
Unidad de la longitud Escala linear
Exactitud de medición (μm) longitud de 2.5+L/150 L=measuring (milímetros)
Modo de operación (X, Y) Manual
Modo de operación (Z) CNC
Sistema de la imagen Cámara CCD de alta resolución
Visera del yelmo quíntupla 5X 10X 20X 50X
Ocular WF10X
Software de medición 2.o software de medición
Iluminación Transmitido sistema de la Epi-iluminación
Contorno Luz paralela del contorno del LED
Fuente de alimentación AC100~240V 50/60Hz
 
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Microscopio grande de la inspección de la oblea del viaje 50X de 1 micrón

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Number modelo :
SPC500
Lugar del origen :
China
MOQ :
1 pedazo
Condiciones de pago :
L/C, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente :
50, 000PCS/Year
Detalles de empaquetado :
paquete exportador estándar
Proveedor de contacto
Microscopio grande de la inspección de la oblea del viaje 50X de 1 micrón

Leader Precision Instrument Co., Ltd

Active Member
5 Años
guangdong, dongguan
Desde 2009
Tipo de empresa :
Fabricante
Total anual :
500-1000
Número de empleados :
50~100
Nivel de certificación :
Active Member
Proveedor de contacto
Requisito de presentación